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sem電鏡圖像怎么分析（sem電鏡怎么使得圖像清晰）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-08 11:56:12 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 61

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本文目錄:

1、SEM分析法是什么
2、求指導(dǎo)怎么分析氧化石墨烯基膜的掃描電鏡圖
3、sem掃描電鏡是測(cè)什么的
4、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

sem電鏡圖像怎么分析（sem電鏡怎么使得圖像清晰）

一、SEM分析法是什么

SEM是scanning electron microscope的縮寫，中文即掃描電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡的設(shè)計(jì)思想和工作原理，早在1935年便已被提出來(lái)了。1942年，英國(guó)首先制成一臺(tái)實(shí)驗(yàn)室用的掃描電鏡，但由于成像的分辨率很差，照相時(shí)間太長(zhǎng)，所以實(shí)用價(jià)值不大。經(jīng)過(guò)各國(guó)科學(xué)工作者的努力，尤其是隨著電子工業(yè)技術(shù)水平的不斷發(fā)展，到1956年開(kāi)始生產(chǎn)商品掃描電鏡。近數(shù)十年來(lái)，掃描電鏡已廣泛地應(yīng)用在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金學(xué)等學(xué)科的領(lǐng)域中，促進(jìn)了各有關(guān)學(xué)科的發(fā)展。

二、求指導(dǎo)怎么分析氧化石墨烯基膜的掃描電鏡圖

原子力顯微鏡表征石墨烯的什么性質(zhì)

當(dāng)然是原子力顯微鏡AFM，看高度圖石墨烯單層不到1 nm。應(yīng)該說(shuō)AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。當(dāng)然，AFM表征的時(shí)候應(yīng)注意區(qū)分灰塵、鹽類和石墨烯分子。

當(dāng)然光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡SEM也可以用來(lái)表征石墨烯。還有高分辨率透射電鏡HRTEM可以看到石墨烯的蜂窩狀原子圖像，可以看到氧化石墨烯還原后的缺陷。

三、sem掃描電鏡是測(cè)什么的

SEM描電鏡主要應(yīng)用于微觀形貌、顆粒尺寸、微區(qū)組成、元素分布、元素價(jià)態(tài)和化學(xué)鍵、晶體結(jié)構(gòu)、相組成、結(jié)構(gòu)缺陷、晶界結(jié)構(gòu)和組成等。SEM一般通過(guò)搭配能譜儀EDS使用,可利用EDS進(jìn)行元素成分定性、定量分析。用來(lái)觀測(cè)芯片內(nèi)部層次和測(cè)量各層厚度、觀測(cè)并拍攝局部異常照片和測(cè)量異常尺寸、測(cè)量芯片關(guān)鍵尺寸線寬和孔徑、定性和定量分析異常污染物的化學(xué)元素組成。

四、電子掃描顯微鏡（SEM）的工作原理？？？

SEM通過(guò)電子來(lái)使樣本放大50萬(wàn)倍，相當(dāng)于將1毫米放大到500米。同時(shí)，SEM也可以分析樣品的組成元素。SEM產(chǎn)生電子束撞擊樣品原子的電子層，產(chǎn)生X射線，釋放不同程度的能力，從而判斷原子的種類。這項(xiàng)技術(shù)也被稱為X射線微探技術(shù)，對(duì)于分析槍擊痕跡非常有用。

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