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XRD原理（xrd原理圖）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-13 15:56:46 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 110

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于XRD原理的問(wèn)題，以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理，讓我們一起來(lái)看看吧。

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本文目錄:

1、xrd sem tem原理是
2、求大神幫解說(shuō)一下什么是SEM XRD EDS 分析方法和原理本人零基礎(chǔ) 大體了解一下
3、xrd測(cè)元素原理
4、XRD與EDS有什么區(qū)別？求大神

XRD原理（xrd原理圖）

一、xrd sem tem原理是

XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以測(cè)定晶格參數(shù),可以測(cè)定結(jié)構(gòu)方向、含量，可以測(cè)定材料的內(nèi)應(yīng)力，材料晶體的大小等等。一般主要是用來(lái)分析合金里面的相成分和含量。

樣品制備：

通常定量分析的樣品細(xì)度應(yīng)在1微米左右，即應(yīng)過(guò)320目篩。

SEM是利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測(cè)樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等等。主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。

二、求大神幫解說(shuō)一下什么是SEM XRD EDS 分析方法和原理本人零基礎(chǔ) 大體了解一下

SEM是掃描電子顯微鏡，最高可放大至20萬(wàn)倍左右，用二次電子成像的原理來(lái)觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀，是每種元素對(duì)應(yīng)的電子能不同，來(lái)鑒別元素，通常是和SEM結(jié)合使用，也就是說(shuō)在SEM上安裝EDS附件，在觀看形貌時(shí)，選擇一定區(qū)域用EDS打能譜，也就知道了該區(qū)域的元素組成。XRD是X射線衍射儀，其原理是高壓下，陰極發(fā)出的電子形成高能電子束，轟擊陽(yáng)極靶材（通常是Cu），靶材的內(nèi)部電子能量升高，被激發(fā)出來(lái)，當(dāng)它回到基態(tài)的過(guò)程中，多余的能量以X射線、俄歇電子等形式釋放出來(lái)。XRD收集的是其中的X射線，X射線掃到樣品上，會(huì)根據(jù)布拉格方程產(chǎn)生衍射角，衍射峰。每種物質(zhì)(不同樣品)的衍射峰不同，因此通常用來(lái)鑒別物相，也會(huì)根據(jù)峰面積算半定量。

三、xrd測(cè)元素原理

XRD是X射線衍射，對(duì)由晶格組成的物質(zhì)進(jìn)行衍射，分析其衍射圖譜，獲得成分和結(jié)構(gòu)。不能測(cè)元素。

四、XRD與EDS有什么區(qū)別？求大神

SEM，EDS，XRD的區(qū)別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個(gè)用于微區(qū)分析成分的配件——能譜儀，是用來(lái)對(duì)材料微區(qū)成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用于物相分析的檢測(cè)設(shè)備。

SEM用于觀察標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)，其工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級(jí)電子，次級(jí)電子的多少與電子束入射角有關(guān)，也就是說(shuō)與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān)，次級(jí)電子由探測(cè)體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?hào)，再經(jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)來(lái)控制熒光屏上電子束的強(qiáng)度，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。

EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特征波長(zhǎng)，特征波長(zhǎng)的大小則取決于能級(jí)躍遷過(guò)程中釋放出的特征能量△E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點(diǎn)來(lái)進(jìn)行成分分析的。

XRD是利用衍射原理，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析。

說(shuō)簡(jiǎn)單點(diǎn)，SEM是用來(lái)看微觀形貌的，觀察表面的形態(tài)、斷口、微裂紋等等；EDS則是檢測(cè)元素及其分布，但是H元素不能檢測(cè)；XRD觀察的是組織結(jié)構(gòu)，可以測(cè)各個(gè)相的比例、晶體結(jié)構(gòu)等。

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