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SEM圖像

發(fā)布時(shí)間：2023-04-14 06:59:15 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 94

大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來大家介紹下關(guān)于SEM圖像的問題，以下是小編對此問題的歸納整理，讓我們一起來看看吧。

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本文目錄:

1、關(guān)于SEM 圖象清晰的問題
2、SEM圖像上，一個(gè)粒子是不是一個(gè)晶體？
3、SEM為什么可以獲得3維圖像？
4、sem圖像忘記保存那種帶有參數(shù)的格式怎么補(bǔ)救？

SEM圖像

一、關(guān)于SEM 圖象清晰的問題

我今天剛做完sem實(shí)驗(yàn),technicion說,和加速電壓有關(guān)系,電壓越高,圖像越sharp.

二、SEM圖像上，一個(gè)粒子是不是一個(gè)晶體？

不是一個(gè)晶體，雖然5k倍下可以看到40nm的組織，但是還沒有達(dá)到晶體的晶格常數(shù)水平，所以不是晶體組織。我們觀察晶體組織一般是通過x射線衍射分析得到衍射花樣，通過計(jì)算得出的，而不能直接觀察到晶體。

看到的這種粒子是這種材料的表面組織形貌

三、SEM為什么可以獲得3維圖像？

誰說電子顯微鏡不能得到三維圖像？

掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發(fā)射的能量為 5 ～ 35keV 的電子，以其交叉斑作為電子源，經(jīng)二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強(qiáng)度和束斑直徑的微細(xì)電子束，在掃描線圈驅(qū)動(dòng)下，于試樣表面按一定時(shí)間、空間順序作柵網(wǎng)式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產(chǎn)生二次電子發(fā)射（以及其它物理信號），二次電子發(fā)射量隨試樣表面形貌而變化。二次電子信號被探測器收集轉(zhuǎn)換成電訊號，經(jīng)視頻放大后輸入到顯像管柵極，調(diào)制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像

四、sem圖像忘記保存那種帶有參數(shù)的格式怎么補(bǔ)救？

一般掃描電鏡圖片原圖都有數(shù)據(jù)的，你可以通過原本電鏡，打開此圖，查看參數(shù)

以上就是關(guān)于SEM圖像相關(guān)問題的回答。希望能幫到你，如有更多相關(guān)問題，您也可以聯(lián)系我們的客服進(jìn)行咨詢，客服也會(huì)為您講解更多精彩的知識和內(nèi)容。