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    vi曲線測(cè)試軟件設(shè)計(jì)(vi曲線測(cè)試儀實(shí)用性)

    發(fā)布時(shí)間:2023-04-25 04:26:21     稿源: 創(chuàng)意嶺    閱讀: 120        

    大家好!今天讓創(chuàng)意嶺的小編來(lái)大家介紹下關(guān)于vi曲線測(cè)試軟件設(shè)計(jì)的問(wèn)題,以下是小編對(duì)此問(wèn)題的歸納整理,讓我們一起來(lái)看看吧。

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    本文目錄:

    vi曲線測(cè)試軟件設(shè)計(jì)(vi曲線測(cè)試儀實(shí)用性)

    vi曲線測(cè)試儀對(duì)示波器有要求嗎

    1、首先,示波器的帶寬需要滿足一定的要求。vi曲線測(cè)試儀是用來(lái)測(cè)試汽車點(diǎn)火系統(tǒng)的,測(cè)試頻率一般在幾百赫茲到幾千赫茲之間,因此示波器的帶寬需要達(dá)到至少幾千赫茲,以便能夠準(zhǔn)確地顯示測(cè)試信號(hào)波形。
    2、其次,示波器的輸入電阻也需要滿足一定的要求。vi曲線測(cè)試儀一般使用高阻輸入,因此示波器的輸入電阻需要達(dá)到至少10兆歐姆,以避免測(cè)試信號(hào)受到干擾,確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
    3、最后,示波器的觸發(fā)功能也需要滿足一定的要求。vi曲線測(cè)試儀測(cè)試的信號(hào)波形通常是非重復(fù)性的,因此示波器需要具備可靠的觸發(fā)功能,以便能夠穩(wěn)定地顯示測(cè)試信號(hào)波形。

    如何使用電路在線維修測(cè)試儀對(duì)電路板進(jìn)行維修

    1在線測(cè)試儀的功能特點(diǎn)
    1.1簡(jiǎn)介
    在線測(cè)試儀是一種維修PCB板的儀器。它可完成對(duì)中小規(guī)模數(shù)字集成電路,存儲(chǔ)器及部分大規(guī)模集成電路芯片的在/離線功能測(cè)試,還可對(duì)PCB板上任意一結(jié)點(diǎn)(焊點(diǎn))進(jìn)行V-I曲線的測(cè)試、存儲(chǔ)和比較(所謂在線測(cè)試,是指對(duì)焊接在PCB板上的元器件進(jìn)行的測(cè)試;而離線測(cè)試則是指對(duì)脫離PCB板的元器件進(jìn)行的測(cè)試)。其原理結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。
    (1)功能測(cè)試(ICFT)
    利用后驅(qū)動(dòng)原理來(lái)驅(qū)動(dòng)電路,然后取被測(cè)門(mén)的輸出進(jìn)行分析,得出結(jié)果。后驅(qū)動(dòng)原理是指,讓電路根據(jù)測(cè)試者的意圖變化,強(qiáng)迫其輸入端的電平變高或變低,以使被測(cè)門(mén)與周圍電路“隔離“開(kāi)來(lái),看其輸出與輸入是否滿足規(guī)定的邏輯關(guān)系,從而完成電路芯片的邏輯功能測(cè)試。
    (2)VI曲線測(cè)試(V-I)
    通過(guò)比較形式來(lái)判斷故障點(diǎn),其比較過(guò)程是這樣的:先對(duì)一塊工作正常的PCB板上兩個(gè)結(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試,得到電壓(V)——電流(I)關(guān)系曲線,并保存測(cè)試結(jié)果,作為將來(lái)比較操作中的標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)遇到同類型PCB板發(fā)生故障時(shí),便可用在線測(cè)試儀對(duì)該故障板的任意兩結(jié)點(diǎn)進(jìn)行VI測(cè)試,同時(shí)調(diào)出正常PCB板相應(yīng)兩結(jié)點(diǎn)間的VI曲線進(jìn)行比較,若比較結(jié)果超出了正常范圍,則此兩結(jié)點(diǎn)間應(yīng)是故障點(diǎn)之一。
    (3)存儲(chǔ)器測(cè)試
    對(duì)隨機(jī)讀/寫(xiě)存儲(chǔ)器(RAM),采用寫(xiě)入/讀出的辦法進(jìn)行測(cè)試,即先向存儲(chǔ)單元寫(xiě)入一數(shù)據(jù),然后再讀出,看兩者數(shù)據(jù)是否相同,若不同,則該存儲(chǔ)器出現(xiàn)了故障。對(duì)只讀存儲(chǔ)器(ROM),先將其存儲(chǔ)單元的內(nèi)容讀出來(lái),存于計(jì)算機(jī)中。日后同故障電路板上相應(yīng)存儲(chǔ)器中讀出的內(nèi)容相比較,相同則說(shuō)明沒(méi)問(wèn)題。
    (4)狀態(tài)測(cè)試
    通過(guò)測(cè)試器件各管腳的電平狀態(tài),并與好的器件進(jìn)行比較來(lái)判別。
    (5)自定義測(cè)試
    在線測(cè)試儀還提供了一個(gè)數(shù)字電路功能測(cè)試平臺(tái),用戶可自己定義被測(cè)器件輸入管腳的激勵(lì),描述輸出對(duì)于輸入的邏輯關(guān)系。若符合邏輯關(guān)系,則器件沒(méi)有問(wèn)題。?
    2.1基本原則
    (1)先電源后測(cè)試——這是維修過(guò)程中的一項(xiàng)重要原則。即在使用測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)試前,應(yīng)先檢查電路芯片的工作電源,若電源短路,則在加電測(cè)試時(shí)可能會(huì)損壞儀器。
    (2)先測(cè)試后分析——就是對(duì)PCB板先進(jìn)行測(cè)試,再依據(jù)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析,進(jìn)而確定故障位置。
    (3)先確診后處理——盡可能的把故障縮小到最小范圍,有了較大的把握再更換元器件。?
    2.2維修方法
    (1)先離線后在線——由于離線測(cè)試準(zhǔn)確度高,因此,對(duì)于板上可插拔器件,應(yīng)將其取下進(jìn)行離線測(cè)試,再對(duì)板上其他元器件進(jìn)行測(cè)試。
    (2)先接口后元件——維修時(shí),最好對(duì)PCB板上的各接口引腳進(jìn)行VI曲線測(cè)試。因?yàn)樵S多故障是由接口電路引起的,先測(cè)接口有時(shí)可以很快查出故障。
    (3)先分立后集成——先測(cè)試分立元件,再測(cè)集成芯片,因?yàn)榉至⒃霈F(xiàn)的故障率更高。
    (4)先功能后VI——即對(duì)PCB板上可功能測(cè)試的集成塊最好先進(jìn)行功能測(cè)試,再對(duì)無(wú)法功能測(cè)試的集成塊進(jìn)行VI曲線測(cè)試。因?yàn)楣δ軠y(cè)試的結(jié)果更直觀,更可靠,能確保更快找到故障。
    3.1維修前的準(zhǔn)備工作
    (1)若PCB板上元器件無(wú)標(biāo)號(hào),則應(yīng)畫(huà)出PCB元件位置圖,并在圖上標(biāo)出編號(hào),測(cè)試時(shí),以此標(biāo)號(hào)進(jìn)行識(shí)別。
    (2)建立比較庫(kù)。這是使用在線測(cè)試儀進(jìn)行PCB板維修前的重要工作。所謂建庫(kù),是指通過(guò)對(duì)正常PCB板的測(cè)試,將板上元器件管腳狀態(tài)、VI曲線波形、只讀存儲(chǔ)器內(nèi)的數(shù)據(jù)等測(cè)試結(jié)果存檔,以便維修時(shí)調(diào)出與故障板進(jìn)行比較分析。
    3.2維修步驟
    (1)了解。當(dāng)一塊PCB板需要維修時(shí),應(yīng)問(wèn)明出現(xiàn)的故障現(xiàn)象,并仔細(xì)觀察板上是否有燒焦、保險(xiǎn)絲熔斷、插件松動(dòng)或連線斷開(kāi)等明顯故障。
    (2)測(cè)電源。用萬(wàn)用表檢查PCB板上元器件工作電源是否有短路。
    (3)離線測(cè)試。取下板上可插拔器件并進(jìn)行離線測(cè)試。
    (4)在線測(cè)試。對(duì)板上其他元器件進(jìn)行測(cè)試,確定故障點(diǎn)。其故障定位流程如圖2所示。
    (5)試運(yùn)行。當(dāng)故障點(diǎn)確定并排除后,還必須聯(lián)機(jī)試運(yùn)行,驗(yàn)證故障是否完全排除。若仍不能正常工作,還須按上述步驟重新查找故障。
    (6)整理記錄。在測(cè)試過(guò)程中(包括建比較庫(kù)),應(yīng)邊測(cè)試邊做好記錄,特別是有可疑的地方,更應(yīng)詳細(xì)記錄測(cè)試時(shí)觀察到的現(xiàn)象。最后對(duì)記錄進(jìn)行分類整理并保存,以便日后遇到同類型模板或相似故障現(xiàn)象時(shí)可作為參考。
    (1)測(cè)試前,用萬(wàn)用表檢查板上元器件工作電源是否短路,若有,應(yīng)先排除。
    (2)加電測(cè)試時(shí),用手摸元器件表面,檢查是否有過(guò)熱元器件,若有,應(yīng)先排除或?qū)⑦^(guò)熱器件摘除。
    (3)若板上有振蕩器,先摘除或?qū)⑵涠搪?,使其停止工作。防止測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生脈沖,影響測(cè)試結(jié)果。
    (4)檢查電路板上是否有電池供電的存儲(chǔ)器,若有,應(yīng)問(wèn)清有關(guān)人員其內(nèi)部數(shù)據(jù)是否有用。若有用,則不可測(cè)試,否則可能修改其數(shù)據(jù)或?qū)е聰?shù)據(jù)丟失。
    (5)由于同一型號(hào)的元器件其特性多少存在一定差異,在VI曲線比較測(cè)試時(shí),同一型號(hào)的每塊板對(duì)應(yīng)結(jié)點(diǎn)曲線也就不盡相同。一般當(dāng)兩曲線差異較大時(shí),才認(rèn)為該處可能是故障點(diǎn)之一。
    (6)VI曲線測(cè)試時(shí),其電壓——電流曲線通常以板上電源地作為參考點(diǎn)。但一些板上的元器件或接口與電源地之間阻值很大或是斷開(kāi),這時(shí)可自定義一個(gè)電路結(jié)點(diǎn)作為參考點(diǎn)。
    (7)在線功能測(cè)試時(shí),出現(xiàn)“有非法電源或地腳”時(shí)有兩種可能:①測(cè)試夾未夾好被測(cè)器件,造成接觸不良。②該器件確有其他引腳(器件本身工作電源及地腳除外)接電源或地,解決的辦法是暫時(shí)將這些引腳與電源或地?cái)嚅_(kāi),再測(cè)試。
    最后告訴大家一個(gè),測(cè)試儀的使用技巧,那就是VI曲線功能,這個(gè)功能非常實(shí)用,在測(cè)試儀芯片庫(kù)沒(méi)有數(shù)據(jù)的情況下,無(wú)法對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候,我們可以使用VI曲線進(jìn)行對(duì)比測(cè)試(有好板對(duì)照),如果沒(méi)有好板,那我們可以找到公共地,然后對(duì)芯片管腳或元器件進(jìn)特性,行性能測(cè)試。(元器件是性能分別是什么特性,測(cè)試儀說(shuō)明書(shū)上面有清楚標(biāo)示元器件特性)。

    vi曲線測(cè)試軟件設(shè)計(jì)(vi曲線測(cè)試儀實(shí)用性)

    如何檢測(cè)電路板上的未知芯片

      使用電路板故障檢測(cè)儀。
      相關(guān)電路板故障檢測(cè)儀用法:
      1. 數(shù)字邏輯器件性能(直流參數(shù))測(cè)試:
      維修實(shí)踐發(fā)現(xiàn),有些器件原有作用尚能實(shí)現(xiàn),但參數(shù)卻發(fā)生了變化,元件性能表現(xiàn)的很不穩(wěn)定,設(shè)備或電路板仍然不能正常工作,為此天惠公司開(kāi)發(fā)了針對(duì)集成電路直流參數(shù)的測(cè)試作用,支持對(duì)數(shù)字集成電路的輸入漏電流和輸出驅(qū)動(dòng)電流等直流參數(shù)測(cè)試。如輸入漏電流(Iih,IiL,Vih,ViL);輸出驅(qū)動(dòng)電流(IOL,IOh,VOL,VOh)。
      
      2. 數(shù)字邏輯器件在/離線作用測(cè)試:
      能夠?qū)Χ噙壿嬰娖綌?shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線作用測(cè)試;測(cè)試器件庫(kù)龐大,僅邏輯數(shù)字器件就1 萬(wàn)多種;
      測(cè)試范圍廣:TTL54/74系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、俄羅斯器件、西門(mén)子器件庫(kù)。
      
      3.ASA(VI)模擬特征分析測(cè)試:
      ASA測(cè)試通過(guò)比較好電路板和故障電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測(cè)故障,可把故障定位到電路結(jié)點(diǎn)。ASA測(cè)試不涉及器件作用,無(wú)論何種元器件,模擬的、數(shù)字的、作用已知的、作用未知的都能檢測(cè);ASA測(cè)試是逐管腳進(jìn)行的,基本上不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測(cè)試。 ASA測(cè)試無(wú)需給電路板加電,
      使用較為安全。
      
      4.單/多端口VI曲線分析比較測(cè)試:
      對(duì)器件采取單端口或多端口的VI曲線測(cè)試方式;單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地提取一遍阻抗特性曲線,而多端口是以任一腳做參考提取一遍VI曲線。
      
      5.ASA 曲線雙棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試:
      使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試;當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí),此種方法最有效。
      
      6.ASA 曲線測(cè)試智能提醒作用:
      當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí),如果超差,儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音,引起使用者注意,該測(cè)試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類似于萬(wàn)用表Beep的效果,提高了檢測(cè)效率,也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度。
      
      7.ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào):
      當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí),如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化,曲線就變化明顯,反映故障的觀察靈敏度就越精確,曲線反映故障靈敏度和測(cè)試參數(shù)相關(guān),適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線;該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索出對(duì)故障較靈敏的那根曲線,有效的提高了故障檢出率。
      
      8.可按管腳設(shè)置ASA 曲線測(cè)試參數(shù):
      可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要,給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù),可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線;大大提高了測(cè)試的靈活性。
      
      9.ASA 曲線故障快速定位/查找作用:
      當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線時(shí),測(cè)試儀提供快速的曲線定位/查找作用選項(xiàng),使用戶觀察曲線更方便、直觀。
      
      10. 對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別:
      增強(qiáng)了對(duì)不穩(wěn)定疑難曲線有效識(shí)別的判斷水平,降低了誤判率,進(jìn)一步提高了測(cè)試準(zhǔn)確度。
      
      11. VI曲線參數(shù)值量化作用:
      即從被測(cè)電路或器件的ASA曲線中可以獲取相應(yīng)的參數(shù)測(cè)試值并保存,且能夠用寫(xiě)字板或OFFICE工具軟件直接進(jìn)行編輯或?yàn)g覽。
      
      12. 求取平均曲線的測(cè)試作用:
      用戶可以先測(cè)試多個(gè)器件,得到多個(gè)曲線文件,然后利用該作用把多個(gè)曲線文件平均成一個(gè)曲線文件,作為以后的測(cè)試比較標(biāo)準(zhǔn)。
      
      13.VI曲線雙板直接對(duì)比測(cè)試:
      使用雙路測(cè)試夾對(duì)兩塊相同電路板(一塊好板和一塊壞板)上的相應(yīng)IC同時(shí)進(jìn)行VI曲線提取、存儲(chǔ)和比較測(cè)試,測(cè)試效率極高。
      
      14.三端器件測(cè)試:
      完成對(duì)三端分立元件的動(dòng)態(tài)測(cè)試作用,如三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、繼電器等元件測(cè)試。
      
      15.ASA 曲線多種排列/顯示方式:
      可按比較誤差降序排列顯示曲線,比較誤差升序排列顯示曲線,還可按器件管腳順序排列曲線;可以“按點(diǎn)或“畫(huà)線”來(lái)顯示曲線,單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮小。
      
      16.電容、電感定量測(cè)試:
      可直接在離線狀態(tài)下準(zhǔn)確測(cè)試電容的容量及漏電阻,并展現(xiàn)出電容在充放電過(guò)程中不同的阻值的過(guò)程;能夠測(cè)試出電感的電感量及串聯(lián)電阻;
      
      17. 電路板圖象建庫(kù)測(cè)試:
      通過(guò)數(shù)碼相機(jī)或掃描儀將一塊好的電路板輸入到計(jì)算機(jī)內(nèi),在屏幕上就可以對(duì)該板上各個(gè)集成電路芯片進(jìn)行編號(hào),以便讓儀器知曉器件所在位置,然后即可對(duì)每一個(gè)器件同時(shí)進(jìn)行邏輯作用在線測(cè)試及VI曲線掃描測(cè)試,從而建立起整板的測(cè)試庫(kù),當(dāng)需要維修時(shí),只需將該板從計(jì)算機(jī)軟件內(nèi)調(diào)出,就可以直接對(duì)其進(jìn)行故障診斷,適用于批量電路板的維修。
      
      18.?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試:
      能夠提取11種復(fù)雜的電路在線狀態(tài),如開(kāi)路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài),對(duì)測(cè)試器件外電路的識(shí)別能力強(qiáng)。
      
      19.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離作用:
      用于解除總線競(jìng)爭(zhēng),確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373、74LS245、等),可提供8路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。
      
      上圖為:電路板故障檢測(cè)儀
      
      20.IC型號(hào)識(shí)別:
      針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。
      
      21. LSI大規(guī)模集成電路在線作用及狀態(tài)分析測(cè)試:
      可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行作用及狀態(tài)分析測(cè)試。
      
      22.讀寫(xiě)存儲(chǔ)器作用測(cè)試:
      直接檢測(cè)存儲(chǔ)器SRAM / DRAM芯片的好壞,該測(cè)試無(wú)需事先學(xué)習(xí),有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù),可采用在線、離線測(cè)試方式。
      
      23.只讀存儲(chǔ)器作用測(cè)試:
      可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法,先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái),保存到計(jì)算機(jī)上,再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試;測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上,并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
      
      24.元器件循環(huán)測(cè)試作用:
      該作用可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試,直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止,易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱為軟故障)。
      
      25.?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)作用:
      閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門(mén)檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外,還可選自定義。通過(guò)調(diào)整器件的閾值電平,能夠發(fā)現(xiàn)一些如器件驅(qū)動(dòng)能力下降導(dǎo)致的電路故障。
      
      26.加電延遲可選作用:
      當(dāng)遇到被測(cè)電路板上的電源、地之間有大的濾波電容時(shí)可用到此作用。該選項(xiàng)是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后,需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。
      
      27.測(cè)試夾接觸檢查作用:
      主要解決當(dāng)測(cè)試夾和被測(cè)器件接觸不良(如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等)時(shí),造成的測(cè)試誤判。
      
      28.運(yùn)算放大器在線作用測(cè)試:
      使用模擬信號(hào)測(cè)試運(yùn)放在線性放大區(qū)的工作特性,測(cè)試技術(shù)或國(guó)家發(fā)明專利,有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù),包含LM324、LM348等共計(jì)3000多種。
      
      29. 電壓比較器測(cè)試:
      模擬電壓比較器用于判斷兩個(gè)信號(hào)的微小差異,通過(guò)本測(cè)試儀可以很容易測(cè)試。
      
      30.光電耦合器在線作用測(cè)試:
      由于光耦是電流控制器件,采用電流激勵(lì)信號(hào)測(cè)試,方法科學(xué)嚴(yán)謹(jǐn),準(zhǔn)確度高;有獨(dú)立的光耦測(cè)試器件庫(kù),
      達(dá)500多種。
      
      31.光電耦合器離線直流參數(shù)測(cè)試:
      可在離線情況下對(duì)光耦的主要直流參數(shù)(如光電轉(zhuǎn)換系數(shù)等)進(jìn)行測(cè)試,解決了由于器件的參數(shù)變化難以發(fā)現(xiàn)的故障現(xiàn)象,提高了故障檢出率;
      
      32.UDT自定義測(cè)試平臺(tái):
      把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶,由用戶對(duì)被測(cè)元件或電路的輸入施加激勵(lì)信號(hào),然后從輸出采集響應(yīng)信號(hào),類似于函數(shù)發(fā)生器+示波器的測(cè)試方法。
      
      33. UDT下AD、DA類器件作用測(cè)試:
      用戶通過(guò)UDT控制聰能測(cè)試儀,向被測(cè)試器件(AD/DA)或電路的輸入施加數(shù)字、模擬激勵(lì)信號(hào),從輸出取回相應(yīng)的響應(yīng)信號(hào),通過(guò)比較相同激勵(lì)信號(hào)下,器件/電路的實(shí)測(cè)響應(yīng)信號(hào)和預(yù)期(標(biāo)準(zhǔn))響應(yīng)信號(hào)的符合程度,實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。
      
      34. AFT電路故障追蹤:
      AFT可以看成“信號(hào)發(fā)生器+示波器”測(cè)試方式的直接擴(kuò)充。本測(cè)試儀上能夠設(shè)置多種測(cè)試信號(hào),并且能把測(cè)試信號(hào)以及好板電路對(duì)測(cè)試信號(hào)的響應(yīng),關(guān)聯(lián)在一起存放在計(jì)算機(jī)中――建立用戶自己的電路板測(cè)試庫(kù),用于對(duì)故障板的測(cè)試;也可以把同樣的測(cè)試信號(hào)同時(shí)加在好、壞板的電路上,直接對(duì)照兩者的輸出結(jié)果。
      
      35.電路板網(wǎng)絡(luò)測(cè)試:
      使用模擬信號(hào)提取或比較線路板上任意元器件之間的連線關(guān)系,測(cè)試時(shí)無(wú)須加電,通/斷閾值設(shè)置明確。能夠支持對(duì)用戶的標(biāo)準(zhǔn)Protel 網(wǎng)絡(luò)表文件的直接導(dǎo)入,使網(wǎng)絡(luò)中的開(kāi)路、短路測(cè)試變的更加方便和快捷。
      
      36. 晶體管輸出特性曲線測(cè)試:
      可以測(cè)出雙極型晶體管的輸出特征曲線、MOS型晶體管的跨導(dǎo)曲線。從曲線上可以檢查交流放大能力大小以及均勻程度,直觀看到晶體管的三個(gè)區(qū):截止區(qū)、放大區(qū)、和飽和區(qū)的具體情況??捎糜诰w管的篩選,尤其在晶體管配對(duì)時(shí)特別有用。
      
      37.填表方式擴(kuò)充模擬器件庫(kù):
      以填表的方式定義模擬器件的各管腳狀態(tài):如:正輸入腳、負(fù)輸入腳、輸出腳、正電源腳、負(fù)電源腳、接地腳,以及其他狀態(tài)等。
      
      38.以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù):
      采用HNDDL語(yǔ)言,自適應(yīng)技術(shù)完善;把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶,由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)。
      
      39.元器件速查手冊(cè)(電子詞典):
      元件庫(kù)容量近四萬(wàn)種,供用戶查閱元器件的名稱、管腳排列、封裝等信息。
      
      40.維修日記:
      供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì),發(fā)生的重要事情等,長(zhǎng)期保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn),會(huì)大大提高維修水平和技能。
      
      41.后臺(tái)操作記錄:
      測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果等信息。
      
      電路板故障往往表現(xiàn)為系統(tǒng)啟動(dòng)失敗、屏幕無(wú)顯示等難以直觀判斷的故障現(xiàn)象,因此我們要掌握一些檢測(cè)方法,在發(fā)生故障時(shí),及時(shí)發(fā)現(xiàn),及時(shí)解決,電路板故障檢測(cè)儀就是可以高效檢測(cè)電路板的儀器。

    vi設(shè)計(jì)用什么軟件?

    VI是CIS系統(tǒng)最具傳播力和感染力的部分。是將CI的非可視內(nèi)容轉(zhuǎn)化為靜態(tài)的視覺(jué)識(shí)別符號(hào),以無(wú)比豐富的多樣的應(yīng)用形式,在最為廣泛的層面上,進(jìn)行最直接的傳播。

    視覺(jué)識(shí)別系統(tǒng)分為基本要素系統(tǒng)和應(yīng)用要素系統(tǒng)兩方面。基本要素系統(tǒng)主要包括:企業(yè)名稱、企業(yè)標(biāo)志、標(biāo)準(zhǔn)字、標(biāo)準(zhǔn)色、象征圖案、宣傳口語(yǔ)、市場(chǎng)行銷報(bào)告書(shū)等。

    應(yīng)用系統(tǒng)主要包括:辦公事務(wù)用品、生產(chǎn)設(shè)備、建筑環(huán)境、產(chǎn)品包裝、廣告媒體、交通工具、衣著制服、旗幟、招牌、標(biāo)識(shí)牌、櫥窗、陳列展示等。視覺(jué)識(shí)別(VI)在CI系統(tǒng)大眾所接受,據(jù)有主導(dǎo)的地位。

    擴(kuò)展資料:

    系統(tǒng)設(shè)計(jì):

    視覺(jué)識(shí)別系統(tǒng)設(shè)計(jì)是最外在、最直接、最具有傳播力和感染力的設(shè)計(jì)。該設(shè)計(jì)是將企業(yè)標(biāo)志的基本要素,以強(qiáng)力方針及管理系統(tǒng)有效地展開(kāi),形成企業(yè)固有的視覺(jué)形象,透過(guò)視覺(jué)符號(hào)設(shè)計(jì)出經(jīng)營(yíng)者的理念、精神,有效地推廣企業(yè)及其產(chǎn)品的知名度和形象。

    視覺(jué)識(shí)別系統(tǒng)設(shè)計(jì)將企業(yè)識(shí)別的基本精神充分地體現(xiàn)出來(lái),使企業(yè)產(chǎn)品名牌化,同時(shí)對(duì)推進(jìn)產(chǎn)品進(jìn)入市場(chǎng)進(jìn)行促進(jìn)。該系統(tǒng)設(shè)計(jì)通過(guò)視覺(jué)表現(xiàn)企業(yè)的經(jīng)營(yíng)理念和精神文化,形成獨(dú)特的企業(yè)形象。

    企業(yè)標(biāo)志是特定企業(yè)的象征于識(shí)別符號(hào),是CIS設(shè)計(jì)系統(tǒng)的核心基礎(chǔ)企業(yè)標(biāo)志是通過(guò)簡(jiǎn)練的造型、生動(dòng)的形象來(lái)傳達(dá)去企業(yè)的理念、具有內(nèi)容、產(chǎn)品特性等信息。

    標(biāo)志的設(shè)計(jì)不僅要具有強(qiáng)烈的視覺(jué)沖擊力,而且要表達(dá)出獨(dú)特的個(gè)性和時(shí)代感,必須要表達(dá)出獨(dú)特的個(gè)性和時(shí)代感,必須廣泛的適應(yīng)各種媒體、各種材料及各種用品的制作。

    參考資料來(lái)源:百度百科-Vi




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