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sem形貌分析（SEM形貌分析能分析出啥）
發(fā)布時間：2023-04-08 10:53:49
稿源：
創(chuàng)意嶺 閱讀：
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大家好！今天讓創(chuàng)意嶺的小編來大家介紹下關于sem形貌分析的問題，以下是小編對此問題的歸納整理，讓我們一起來看看吧。
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本文目錄:
一、SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區(qū)別
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區(qū)別主要是名稱不同、工作原理不同、作用不同、
一、名稱不同
1、SEM，英文全稱：Scanningelectronmicroscope，中文稱：掃描電子顯微鏡。
2、TEM，英文全稱：TransmissionElectronMicroscope，中文稱：透射電子顯微鏡。
3、XRD，英文全稱：Diffractionofx－rays，中文稱：X射線衍射。
4、AES，英文全稱：AugerElectronSpectroscopy，中文稱：俄歇電子能譜。
5、STM，英文全稱：ScanningTunnelingMicroscope，中文稱：掃描隧道顯微鏡。
6、AFM，英文全稱：AtomicForceMicroscope，中文稱：原子力顯微鏡。
二、工作原理不同
1．掃描電子顯微鏡的原理是用高能電子束對樣品進行掃描，產生各種各樣的物理信息。通過接收、放大和顯示這些信息，可以觀察到試樣的表面形貌。
2．透射電子顯微鏡的整體工作原理如下：電子槍發(fā)出的電子束經過冷凝器在透鏡的光軸在真空通道，通過冷凝器，它將收斂到一個薄，明亮而均勻的光斑，輻照樣品室的樣品。通過樣品的電子束攜帶著樣品內部的結構信息。通過樣品致密部分的電子數量較少，而通過稀疏部分的電子數量較多。
物鏡會聚焦點和一次放大后，電子束進入第二中間透鏡和第一、第二投影透鏡進行綜合放大成像。最后，將放大后的電子圖像投影到觀察室的熒光屏上。屏幕將電子圖像轉換成可視圖像供用戶觀察。
3、x射線衍射（XRD）的基本原理：當一束單色X射線入射晶體，因為水晶是由原子規(guī)則排列成一個細胞，規(guī)則的原子之間的距離和入射X射線波長具有相同的數量級，因此通過不同的原子散射X射線相互干涉，更影響一些特殊方向的X射線衍射，衍射線的位置和強度的空間分布，晶體結構密切相關。
4．入射的電子束和材料的作用可以激發(fā)原子內部的電子形成空穴。從填充孔到內殼層的轉變所釋放的能量可能以x射線的形式釋放出來，產生特征性的x射線，也可能激發(fā)原子核外的另一個電子成為自由電子，即俄歇電子。
5．掃描隧道顯微鏡的工作原理非常簡單。一個小電荷被放在探頭上，電流從探頭流出，穿過材料，到達下表面。當探針通過單個原子時，通過探針的電流發(fā)生變化，這些變化被記錄下來。
電流在流經一個原子時漲落，從而非常詳細地描繪出它的輪廓。經過多次流動后，人們可以通過繪制電流的波動得到構成網格的單個原子的美麗圖畫。
6．原子力顯微鏡的工作原理：當原子間的距離減小到一定程度時，原子間作用力迅速增大。因此，樣品表面的高度可以直接由微探針的力轉換而來，從而獲得樣品表面形貌的信息。
三、不同的功能
1．掃描電子顯微鏡（SEM）是介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察方法，可以直接利用樣品表面材料的材料性質進行微觀成像。
掃描電子顯微鏡具有高倍放大功能，可連續(xù)調節(jié)20000～200000倍。它有一個大的景深，一個大的視野，一個立體的形象，它可以直接觀察到各種樣品在不均勻表面上的細微結構。
樣品制備很簡單。目前，所有的掃描電鏡設備都配備了x射線能譜儀，可以同時觀察微觀組織和形貌，分析微區(qū)成分。因此，它是當今非常有用的科學研究工具。
2．透射電子顯微鏡在材料科學和生物學中有著廣泛的應用。由于電子容易散射或被物體吸收，穿透率低，樣品的密度和厚度會影響最終成像質量。必須制備超薄的薄片，通常為50～100nm。
所以當你用透射電子顯微鏡觀察樣品時，你必須把它處理得很薄。常用的方法有：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體樣品，通常掛在預處理過的銅線上觀察。
3X射線衍射檢測的重要手段的人們意識到自然，探索自然，尤其是在凝聚態(tài)物理、材料科學、生活、醫(yī)療、化工、地質、礦物學、環(huán)境科學、考古學、歷史、和許多其他領域發(fā)揮了積極作用，不斷拓展新領域、新方法層出不窮。
特別是隨著同步輻射源和自由電子激光的興起，x射線衍射的研究方法還在不斷擴展，如超高速x射線衍射、軟x射線顯微術、x射線吸收結構、共振非彈性x射線衍射、同步x射線層析顯微術等。這些新的X射線衍射檢測技術必將為各個學科注入新的活力。
4，俄歇電子在固體也經歷了頻繁的非彈性散射，可以逃避只是表面的固體表面原子層的俄歇電子，電子的能量通常是10～500電子伏特，他們的平均自由程很短，約5～20，所以俄歇電子能譜學調查是固體表面。
俄歇電子能譜通常采用電子束作為輻射源，可以進行聚焦和掃描。因此，俄歇電子能譜可用于表面微觀分析，并可直接從屏幕上獲得俄歇元素圖像。它是現代固體表面研究的有力工具，廣泛應用于各種材料的分析，催化、吸附、腐蝕、磨損等方面的研究。
5．當STM工作時，探頭將足夠接近樣品，以產生具有高度和空間限制的電子束。因此，STM具有很高的空間分辨率，可以用于成像工作中的科學觀測。
STM在加工的過程中進行了表面上可以實時成像進行了表面形態(tài)，用于查找各種結構性缺陷和表面損傷，表面沉積和蝕刻方法建立或切斷電線，如消除缺陷，達到修復的目的，也可以用STM圖像檢查結果是好還是壞。
6．原子力顯微鏡的出現無疑促進了納米技術的發(fā)展。掃描探針顯微鏡，以原子力顯微鏡為代表，是一系列的顯微鏡，使用一個小探針來掃描樣品的表面，以提供高倍放大。Afm掃描可以提供各類樣品的表面狀態(tài)信息。
與傳統(tǒng)顯微鏡相比，原子力顯微鏡觀察樣品的表面的優(yōu)勢高倍鏡下在大氣條件下，并且可以用于幾乎所有樣品（與某些表面光潔度要求）并可以獲得樣品表面的三維形貌圖像沒有任何其他的樣品制備。
掃描后的三維形貌圖像可進行粗糙度計算、厚度、步長、方框圖或粒度分析。
二、大家?guī)兔Ψ治鲆幌挛⒕РＡУ腟EM
微晶玻璃的SEM，一般要看析晶區(qū)域和晶粒的形狀、大小及分布區(qū)域性等微觀形貌特征，對于感興趣的晶粒，可以采用EDS點掃描來分析其元素組成，確切的相組成還要結合XRD分析或者TEM的選區(qū)電子衍射分析。
三、sem形貌標尺要求
在做掃描電鏡（SEM）測試時，大部分同學已經了解了SEM測試樣品的相關要求，但是仍然有一部分同學不太清楚，今天鑠思百檢測小編整理了關于“SEM測試樣品要求”希望能幫到大家！
SEM測試樣品要求如下：
1.粉末、液體、薄膜、塊體均可。粉末10mg，塊體樣品直徑≤1cm，厚度＜1cm，；薄膜尺寸小于1*1*0.5cm；
2.混凝土，珊瑚沙，氣凝膠，水凝膠等需要抽真空時間非常長的樣品尺寸請盡可能直徑≤5mm，厚度≤5mm
3. 需要脆斷的樣品，尺寸需要≥2*2cm，厚度＜0.5cm，較厚的樣品建議尺寸準備大些；
要求樣品無毒、無放射性、干燥無污染、熱穩(wěn)定性好、耐電子束轟擊。
SEM測試制樣流程：
1、塊體：直接用導電膠粘在樣品臺上測試，若需拍塊體/薄膜截面，需明確截面制備方法，一般可以提供剪刀裁剪和液氮脆斷兩種方式；
2、液體：用移液槍取樣品超聲后的懸濁液，滴一滴于硅片或錫紙上，自然風干/紅外燈烘干，烘干后將硅片或錫紙用導電膠粘在樣品臺上測試；
3、粉末：（1）直接用導電膠粘在樣品臺上測試；（2）乙醇分散制樣：取少量樣品于離心管中，加入 一定量無水乙醇（或水），室溫超聲 5-10min，隨后采用 2 中液體的制樣方式制樣測試。
SEM測試樣品要求注意事項：
1、樣品含水，濕潤是不能做SEM的；
2、易分解樣品需明確分解條件（如溫度等），若樣品極易分解可能不能安排測試，因為分解后產生物質可能對測試儀器造成影響；
3、水凝膠等易吸潮樣品寄樣前請先確認樣品暴露 4-5h 內是否會出現明顯的吸潮現象，測試過程中樣品吸潮會影響拍攝的同時也會對儀器造成損傷；
4、導電性不好（如半導體金屬氧化物、生物樣品及塑料、陶瓷等）或強磁樣品建議選擇噴金，不噴金可能會影響拍攝效果。
鑠思百檢測可做的SEM測試項目有：
表面形貌觀察、EDS能譜點掃、EDS能譜線掃、EDS能譜面掃（mapping）；可鍍金，非磁、弱磁、強磁樣品，生物樣品均可拍攝。
網址：
科研設備
四、掃面電子顯微鏡sem分析主要做什么 知乎
可以用來觀察精密物品表面形貌，可以分析元器件原子成分 比例。
比如可以做元器件失效分析
以上就是關于sem形貌分析相關問題的回答。希望能幫到你，如有更多相關問題，您也可以聯(lián)系我們的客服進行咨詢，客服也會為您講解更多精彩的知識和內容。
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