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掃描電鏡應(yīng)用范圍

發(fā)布時(shí)間：2023-04-14 11:35:40 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 76

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本文目錄:

1、sem掃描電鏡的原理及操作,sem掃描電鏡的原理制樣
2、掃描電鏡與原子力顯微鏡
3、請(qǐng)以鋼鐵材料為例，簡(jiǎn)述掃描電鏡及電子探針X射線(xiàn)能譜儀在材料組織形貌觀察及微區(qū)成分分析中應(yīng)用
4、掃描電鏡含水樣品艙能應(yīng)用于什么領(lǐng)域？

掃描電鏡應(yīng)用范圍

一、sem掃描電鏡的原理及操作,sem掃描電鏡的原理制樣

1.sem掃描電鏡的原理是依據(jù)電子和物質(zhì)的相互作用，掃描電鏡從原理上講就是利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束在試樣上掃描，激發(fā)出各種物理信息。

2.通過(guò)對(duì)這些信息的接收、放大和顯示成像，獲得測(cè)試試樣表面形貌的觀察。

3.sem是一種電子顯微鏡，中文名為掃描電子顯微鏡，通過(guò)用聚焦電子束掃描樣品的表面而產(chǎn)生樣品表面的圖像。

4.它由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集及顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)組成，應(yīng)用于生物、醫(yī)學(xué)、材料和化學(xué)等領(lǐng)域。

5.掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。

6.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是，有較高的放大倍數(shù)，20-20萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào)。

7.有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)。

8.試樣制備簡(jiǎn)單。

9.目前的掃描電鏡都配有X射線(xiàn)能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。

二、掃描電鏡與原子力顯微鏡

掃描電鏡和原子力顯微鏡區(qū)別在于它們操作的環(huán)境不同。掃描電鏡需要在真空環(huán)境中進(jìn)行，而原子力顯微鏡是在空氣中或液體環(huán)境中操作。因此如果是要測(cè)定液體中細(xì)微顆粒的形態(tài)，afm更為適合一些。通常原子力顯微鏡掃描含水的試樣是把它和掃描探針?lè)旁谝后w中進(jìn)行的，因?yàn)樵恿︼@微鏡不是以導(dǎo)電性為基礎(chǔ)，所以圖像和掃描模件在液體中都不會(huì)受干擾。如果想要挑選原子力顯微鏡，可以考慮Park原子力顯微鏡的Park NX-Hivac。Park NX-Hivac是納米科學(xué)研發(fā)界應(yīng)運(yùn)而生的新型全自動(dòng)原子力顯微鏡，是全球最精準(zhǔn)的高性能原子力顯微鏡，同時(shí)也是用于故障分析的最簡(jiǎn)單方便的原子力顯微鏡之一。Park NX-Hivac可以提高生產(chǎn)效率，并確保取得靠譜的結(jié)果。

原子力顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)介紹：

第一：不同于電子顯微鏡只能提供二維圖像，AFM提供真正的三維表面圖。

第二：AFM不需要對(duì)樣品的任何特殊處理，如鍍銅或碳，這種處理對(duì)樣品會(huì)造成不可逆轉(zhuǎn)的傷害。

第三，電子顯微鏡需要運(yùn)行在高真空條件下，原子力顯微鏡在常壓下甚至在液體環(huán)境下都可以良好工作。這樣可以用來(lái)研究生物宏觀分子，甚至活的生物組織。

想要了解原子力顯微鏡的相關(guān)信息，推薦咨詢(xún)Park原子力顯微鏡。Park NX-Hivac通過(guò)為失效分析工程師提供高真空環(huán)境來(lái)提高測(cè)量敏感度以及原子力顯微鏡測(cè)量的可重復(fù)性。與一般環(huán)境或干燥N2條件相比，高真空測(cè)量具有準(zhǔn)確度高、可重復(fù)性好及針尖和樣本損傷低等優(yōu)點(diǎn)，因此用戶(hù)可測(cè)量各種故障分析應(yīng)用中許多信號(hào)響應(yīng)，例如掃描擴(kuò)散電阻顯微術(shù)(SSRM)的摻雜物濃度。掃描電鏡應(yīng)用范圍