sem掃描電鏡圖片怎么分析

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本文目錄:

• 1、求教二氧化鈦SEM圖分析。。

• 2、sem如何調(diào)清晰

• 3、如何利用SEM掃描電鏡法分析玻纖增強(qiáng)尼龍這種復(fù)合材料的玻璃纖維增強(qiáng)效果？

一、求教二氧化鈦SEM圖分析。。

掃描電鏡作為材料分析上一種常用的儀器，它的主要目的還是觀察你做出的材料形貌。因?yàn)槟阏f(shuō)是納米材料，其實(shí)納米材料不一定只有幾個(gè)納米，我印象里幾十甚至幾百個(gè)納米的都可以叫做納米材料。你這個(gè)圖里的微米單位，應(yīng)該是給你一個(gè)量度，好像就跟地圖上的比例尺差不多。

你這個(gè)圖主要還是根據(jù)SEM的圖來(lái)表征下你所做出的納米材料的特性，比如材料呈球形，尺寸在多少個(gè)納米之間，材料顆粒之間有沒(méi)有團(tuán)聚現(xiàn)象之類(lèi)的。

二、sem如何調(diào)清晰

關(guān)鍵是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是調(diào)節(jié)對(duì)比度亮度得到一幅清晰的圖像。 如果比較了解電鏡的話(huà)，還要調(diào)節(jié)像散，對(duì)中等等之類(lèi)的。

SEM想清楚這個(gè)要自己多試條件，不同的電壓、掃描速度、工作距離都是會(huì)影響圖片清晰度的，當(dāng)然條件確認(rèn)的情況下，就是要看你的技術(shù)咯，電子束對(duì)中，像散調(diào)節(jié)，wobble，最后就是focus清晰啦。

制樣，成功制備出所要觀察的位置，樣品如果不導(dǎo)電，可能需要鍍金境電，環(huán)鏡處在無(wú)振動(dòng)干擾和無(wú)磁場(chǎng)干擾的環(huán)境下，設(shè)備，電鏡電子槍仍在合理的使用時(shí)間內(nèi)，拍攝，找到拍攝位置，選擇合適距離，選擇合適探頭，對(duì)中，調(diào)像散，聚焦，反復(fù)操作至最清晰。

掃描電鏡作為一種基礎(chǔ)顯微成像工具，因具有超高的放大能力，從而被高校、科研院所、材料研發(fā)和質(zhì)量分析部門(mén)廣泛用于。

三、PC阻燃的SEM圖要怎么分析?。?/strong>