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高角度環(huán)形暗場掃描透射電鏡（高角度環(huán)形暗場掃描透射電鏡作用）

發(fā)布時(shí)間：2023-04-22 03:48:32 稿源：創(chuàng)意嶺閱讀： 146

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本文目錄:

1、掃描電鏡與透射電鏡有什么區(qū)別掃描電鏡與透射電鏡有哪些不同
2、掃描電鏡的成像原理與透射電鏡有何不同？
3、透射電鏡和掃描電鏡的區(qū)別
4、偏光顯微鏡、掃描電鏡和透射電鏡在高分子材料研究中各有什么優(yōu)缺點(diǎn)？求高人指點(diǎn)，急！謝謝

高角度環(huán)形暗場掃描透射電鏡（高角度環(huán)形暗場掃描透射電鏡作用）

一、掃描電鏡與透射電鏡有什么區(qū)別掃描電鏡與透射電鏡有哪些不同

1、掃描電鏡，是觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)特征；透射電鏡，是觀察樣品的內(nèi)部精細(xì)結(jié)構(gòu)；

2、掃描電鏡是相當(dāng)與對物體的照相，得到的是表面的，只是表面的立體三維的圖象；透射電竟就相當(dāng)于普通顯微鏡，只是用波長更短的電子束替代了會發(fā)生衍射的可見光，從而實(shí)現(xiàn)了顯微，是二維的圖象，會看到表面的圖象的同時(shí)也看到內(nèi)層物質(zhì)。

二、掃描電鏡的成像原理與透射電鏡有何不同？

1、方式不同

掃描電鏡和電視掃描原理相同的成像方式，透射電鏡和光學(xué)顯微鏡或者照相機(jī)成像原理相同的成像方式。

2、實(shí)現(xiàn)不同

掃描電鏡利用掃描透射電子顯微鏡可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣。透射電鏡利用掃描透射模式時(shí)物鏡的強(qiáng)激勵(lì)，可以實(shí)現(xiàn)微區(qū)衍射。

高角度環(huán)形暗場掃描透射電鏡（高角度環(huán)形暗場掃描透射電鏡作用）

擴(kuò)展資料：

透射電子顯微鏡是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件）上顯示出來。

由于電子的德布羅意波長非常短，透射電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多，可以達(dá)到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍。

因此，使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu)，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu)，比光學(xué)顯微鏡所能夠觀察到的最小的結(jié)構(gòu)小數(shù)萬倍。TEM在中和物理學(xué)和生物學(xué)相關(guān)的許多科學(xué)領(lǐng)域都是重要的分析方法，如癌癥研究、病毒學(xué)、材料科學(xué)、以及納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等等。

在放大倍數(shù)較低的時(shí)候，TEM成像的對比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成對電子的吸收不同而造成的。

而當(dāng)放大率倍數(shù)較高的時(shí)候，復(fù)雜的波動(dòng)作用會造成成像的亮度的不同，因此需要專業(yè)知識來對所得到的像進(jìn)行分析。通過使用TEM不同的模式，可以通過物質(zhì)的化學(xué)特性、晶體方向、電子結(jié)構(gòu)、樣品造成的電子相移以及通常的對電子吸收對樣品成像。

三、透射電鏡和掃描電鏡的區(qū)別

透射電鏡和掃描電鏡的區(qū)別：結(jié)構(gòu)不同、工作原理不同、對樣品的要求不同、操作不同、放大倍數(shù)不同、用途不同等。透射電鏡(TEM)可以將樣品放大5000萬倍以上，而對于掃描電鏡(SEM)來說，限制在1-2百萬倍之間。